Mit der Anschaffung des neuen Rasterelektronenmikroskops wurde an der Bauhaus-Universität Weimar die Möglichkeit geschaffen, auch weiterhin im internationalen Spitzenfeld hochwertige Materialforschung zu betrieben.
Das neue Gerät versetzt uns in die Lage, so tief in die Materialien hineinzuschauen wie niemals zuvor. Es erlaubt uns nun auch die dreidimensionale Abbildung und Analytik von Materialien auf der Nanoskala in einer atemberaubenden Qualität.
Auch für viele andere Bereiche der Hochschule wird es in seiner Nutzung einen zentralen Baustein für verschiedenste Forschungsthemen darstellen.

Die Gesamtfinanzierungsumme betrug 1.880.000 Euro.

Sie wurde jeweils zur Hälfte durch Zuweisung von Haushaltsmitteln im Rahmen des Operationellen Programms des Freistaates Thüringen für den Einsatz des Europäischen Fonds für regionale Entwicklung -EFRE- in der Förderperiode 2014-2020 als Förderung innerhalb des Schwerpunktes "Forschungsbezogene Gebäudeinfrastruktur der Hochschulen und außeruniversitären Forschungseinrichtungen" und durch Mittelzuweisung der DFG im Rahmen des Programms "Forschungsgroßgeräte" nach Artikel 91b Abs. 1 S. 1 GG i.V.m. AV-FuG Investitionsmittel zur Verfügung gestellt.

Neben der offiziellen feierlichen Inbetriebnahme des Gerätes konnten sich die Anwesenden (Universitätsleitung, Fakultätsleitung, Mitantragsteller, Gerätehersteller, Presse usw.) bei einer anschließenden Infoveranstaltung einen Überblick über der Anwendungsmöglichkeiten des neuen Gerätes verschaffen

- Dr. rer. nat. Bernd Möser: Aufbau und analytische Möglichkeiten des neuen FIB-SEM Helios NanoLab G4 UX

- Prof. Dr.-Ing. Horst-Michael Ludwig: Anwendungspotentiale des neuen Rasterelektronenmikroskops im Bereich der zementären Baustoffe

Weitere Informationen zum Gerät finden Sie hier.

Die Pressemitteilung der Fakultät Bauingenieurwesen der Bauhaus-Universität Weimar finden Sie hier.

Den Pressebericht der Thüringer Allgemeinen finden Sie hier.