Im Rahmen der „Förderung von Forschungsgroßgeräten“ der Deutschen Forschungsgemeinschaft (DFG) wurde in den vergangenen sechs Monaten am F.A. Finger-Institut für Baustoffkunde (FIB) der Fakultät Bauingenieurwesen der Bauhaus-Universität Weimar neueste Technologie der Rasterelektronenmikroskopie im Wert von rund 1,2 Millionen Euro installiert. Die Zusammenstellung der nun vorhandenen Geräte ist weltweit auf dem Gebiet der Baustoffforschung einzigartig und ermöglicht die Anwendung neuer Forschungsmethoden.

Um die neue Technologie detailliert zu erläutern und die damit verbundenen neuen Möglichkeiten der Forschung und Ausbildung vorzustellen, lädt die Bauhaus-Universität Weimar Medienvertreter am Mittwoch, 5. August 2009, zum Pressegespräch und Besichtigungstermin ein.

Die neue Gerätetechnik wird u.a. zur Charakterisierung von Baustoffen, von Hydratationsvorgängen sowie bei Dauerhaftigkeitsuntersuchungen eingesetzt und wird die zukünftige Baustoffforschung maßgeblich beeinflussen. Neben der Visualisierung kleinster Nanostrukturen können die Wissenschaftler am FIB mit den neuen Geräten nun auch Aussagen bezüglich der chemischen Zusammensetzung einzelner Bestandteile im Submikrometerbereich treffen und damit noch genauere Aussagen über Einsatzmöglichkeiten von Baustoffen geben.

Bei der neu installierten Technik handelt es sich um eine Gerätekombination, die aus mehreren Einzelkomponenten aufgebaut und so in der Baustoffforschung weltweit einzigartig ist. Mit dem Rasterelektronenmikroskop Nova NanoSEM 230 wird eine ultrahochauflösende Abbildung der Präparate unter Hochvakuum oder Gasatmosphäre erzielt. Die dadurch erreichte hohe Oberflächensensitivität ermöglicht es, auch extrem dichte Gefüge, wie beispielsweise ultrahochfesten Beton, kontrastreich und wirklichkeitsgetreu abzubilden. Vervollständigt wird die Anlage durch eine Hochdruckgefrieranlage sowie einem umfangreichen analytischen Equipment. Dank der Hochdruckgefrierpräparation in Kombination mit einem speziellen Shuttlesystem können die Untersuchungen nun auch auf fluide Baustoffsysteme ausgedehnt werden. Weitere Informationen finden Sie unter www.uni-weimar.de/Bauing/remlabor/

Als Gesprächspartner stehen zur Verfügung:
Univ.-Prof. Dr.-Ing. habil. Jochen Stark, Professur Allgemeine Baustoffkunde und Institutsdirektor des FIB
Dr. rer. nat. Bernd Möser, Experte für Rasterelektronenmikroskopie am FIB
Dr. rer. nat. Christiane Rößler, Expertin für Rasterelektronenmikroskopie am FIB

Pressegespräch und Besichtigungstermin

Rasterelektronenmikroskopie-Labor am F.A. Finger-Institut für Baustoffkunde
Datum: 5. August 2009
Uhrzeit: 11 Uhr
Ort: Rasterelektronenmikroskopie-Labor, Raum 218, Coudraystraße 11, 99423 Weimar

Für Anmeldungen oder Rückfragen können Sie sich gern vorab an Claudia Goldammer, Presse- und Öffentlichkeitsarbeit, Fakultät Bauingenieurwesen, Telefon 0 36 43/58 11 93 oder per E-Mail unter claudia.goldammer@uni-weimar.de wenden.

(29.07.2009)