| TGL-Nr. | Ausgabe | Titel |
| TGL 200-7115 | 1976-12-00 | Elektrische Nachrichtentechnik. Drehknöpfe |
| TGL 200-7755/01 | 1981-03-00 | Geräte zur Messung des Schalldruckpegels. Schallpegelmesser |
| TGL 200-7755/02 | 1981-06-00 | Geräte zur Messung des Schalldruckpegels. Elektronische Terz- und Oktavfilter |
| TGL 200-7758 | 1965-07-00 | Temperaturbegrenzer. Temperaturregler für industrielle Zwecke. Technische Forderungen. Prüfungen |
| TGL 200-7761/01 | 1966-05-00 | Lautstärkeermittlung aus Schallpegelanalysen. Begriffe |
| TGL 200-8041 | 1982-03-00 | Feste und mechanisch veränderbare Widerstände. Feste Drahtwiderstände Baureihe 22. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8042 | 1979-12-00 | Feste und mechanisch veränderbare Widerstände. Feste Drahtwiderstände Baureihe 84. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8077 | 1979-12-00 | Feste und mechanisch veränderbare Widerstände. Veränderbare Drahtwiderstände Baureihe 554. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8080 | 1985-09-00 | Kontaktbauelemente. HF-Steckverbinder 1/3,3. Schraubfesthaltung. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8101/01 | 1975-08-00 | Elektrische Lampen. Lampensockel. Allgemeine Technische Forderungen. Prüfung. Lieferung |
| TGL 200-8101/02 | 1975-08-00 | Elektrische Lampen. Lampensockel. Elektrische Werte |
| TGL 200-8103/02 | 1974-12-00 | Elektrische Lampen. Lampensockel BA. Lehren |
| TGL 200-8104/02 | 1974-12-00 | Elektrische Lampen. Lampensockel B. Lehren |
| TGL 200-8105/01 | 1975-06-00 | Elektrische Lampen. Lampensockel S. Abmessungen |
| TGL 200-8105/02 | 1975-06-00 | Elektrische Lampen. Lampensockel S: Lehren |
| TGL 200-8120 | 1984-12-00 | Elektrische Lichtquellen. Quecksilberdampf-Höchstdrucklampen bis 500 W. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8136 | 1980-12-00 | Elektronenröhren. Drehanoden-Röntgenröhren DR 150/30/50 ö und DR 151/30/50 ö. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8139 | 1983-12-00 | Halbleiterbauelemente. Selen-Gehörschutzgleichrichter. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8142 | 1981-03-00 | Halbleiterbauelemente Z-Dioden SZX 18/1, SZX 18/5,6 bis SZX 18/33, SZX 19/5,1 bis SZX 19/33. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8161/01 + 1. Änderung | 1969-10-00 | Halbleiterbauelemente. Begriffe für Halbleiterdioden |
| TGL 200-8161/02 | 1977-01-00 | Halbleiterbauelemente. Begriffe. Transistoren |
| TGL 200-8161/04 | 1969-10-00 | Halbleiterbauelemente. Begriffe für Thyristoren |
| TGL 200-8161/05 | 1967-05-00 | Halbleiterbauelemente. Begriffe für Thermoelektrische Kühlelemente |
| TGL 200-8164 | 1981-10-00 | Elektrische Lichtquellen. Brennstellungen |
| TGL 200-8169 | 1983-12-00 | Elektrische Lichtquellen. Xenon-Hochdrucklampen. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8170 | 1980-10-00 | Elektrische Lichtquellen. Zwerglampen O. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8171/01 | 1975-12-00 | Elektrische Lampen. Begriffe. Lichterzeugung |
| TGL 200-8171/02 | 1975-12-00 | Elektrische Lampen. Begriffe. Lampen |
| TGL 200-8171/03 | 1975-12-00 | Elektrische Lampen. Begriffe. Bauelemente für Lampen und Zubehör |
| TGL 200-8175 | 1984-12-00 | Elektrische Lichtquellen. Spektrallampen. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8181 | 1975-11-00 | Elektrische Lampen. Anschlusskappen - Anschlussnippel. Abmessungen |
| TGL 200-8187 | 1984-12-00 | Elektrische Lichtquellen. Mikroglühlampen. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8188/03 | 1980-02-00 | Elektrische Lichtquellen. Kraftfahrzeug-Halogenlampen H4-FSD. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8236 | 1979-12-00 | Elektronenröhren. Grobstruktur-Röntgenröhren. GE 140/5 ö. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8237 | 1978-12-00 | Elektronenröhren. Grobstruktur-Röntgenröhren. GE 200/5 ö. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8264/02 | 1975-05-00 | Elektrische Kondensatoren. Leistungskondensatoren ab 1 kvar. Aufstellung und Betrieb |
| TGL 200-8268 | 1987-07-00 | Festkondensatoren. Motor-Kondensatoren. Allgemeine technische Bedingungen |
| TGL 200-8275 | 1981-11-00 | Festkondensatoren. Keramik Leistungskondensatoren. Allgemeine technische Bedingungen |
| TGL 200-8281/01 | 1975-12-00 | Festkondensatoren. Polystyrol-Kondensatoren. Begriffe. Allgemeine technische Forderungen |
| TGL 200-8281/02 | 1975-12-00 | Festkondensatoren. Polystyrol-Kondensatoren. Prüfungen, Lieferung |
| TGL 200-8295/01 | 1978-09-00 | Halbleiterbauelemente. Messverfahren für Halbleiterdioden. Allgemeine Messbedingungen. Übersicht |
| TGL 200-8295/01 | 1983-09-00 | Halbleiterbauelemente. Halbleiterdioden. Allgemeine Messbedingungen. Übersicht |
| TGL 200-8295/02 | 1978-09-00 | Halbleiterbauelemente. Messverfahren für Halbleiterdioden. Messung des Sperrstroms |
| TGL 200-8295/02 | 1983-09-00 | Halbleiterbauelemente Halbleiterdioden. Messung des Sperrgleichstromes und der Sperrgleichspannung |
| TGL 200-8295/05 | 1975-12-00 | Halbleiterbauelemente. Messverfahren für Halbleiterdioden. Messverfahren für HF-Größen |
| TGL 200-8295/05 | 1983-09-00 | Halbleiterbauelemente Halbleiterdioden. Messung der Durchlassgleichspannung und des Durchlassgleichstromes |
| TGL 200-8295/07 | 1975-12-00 | Halbleiterbauelemente. Messverfahren für Halbleiterdioden. Messverfahren für thermische Größen |
| TGL 200-8295/07 | 1983-09-00 | Halbleiterbauelemente. Halbleiterdioden Messung der Z-Spannung |
| TGL 200-8295/09 | 1983-09-00 | Halbleiterbauelemente. Halbleiterdioden. Messung der Sperr- und Durchlaßerholungszeit |
| TGL 200-8295/10 | 1983-09-00 | Halbleiterbauelemente. Halbleiterdioden. Messung der Sperrerholladung |
| TGL 200-8295/12 | 1983-09-00 | Halbleiterbauelemente. Halbleiterdioden. Messung der Gesamtkapazität |
| TGL 200-8295/14 | 1983-09-00 | Halbleiterbauelemente. Halbleiterdioden. Meßverfahren des Gütefaktors und des Serienwiderstandes |
| TGL 200-8295/19 | 1983-09-00 | Halbleiterbauelemente. Halbleiterdioden. Messung des Z-Widerstandes und differentiellen Durchlaßwiderstandes |
| TGL 200-8295/20 | 1983-09-00 | Halbleiterbauelemente. Halbleiterdioden. Messung des dynamischen Widerstandes in Durchlaßrichtung |
| TGL 200-8295/25 | 1983-09-00 | Halbleiterbauelemente. Halbleiterdioden. Bestimmung des Temperaturkoeffizienten der Z-Spannung |
| TGL 200-8295/26 | 1983-09-00 | Halbleiterbauelemente. Halbleiterdioden. Bestimmung des Temperaturkoeffizienten der Gesamtkapazität |
| TGL 200-8296 | 1985-12-00 | Elektronenröhren. Keramische Schale für themische Werkstoffbehandlungen |
| TGL 200-8309/01 | 1979-01-00 | Halbleiterbauelemente. Glasdurchführungen für Transistoren. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8309/02 | 1979-01-00 | Halbleiterbauelemente. Glasdurchführungen für Transistoren. Hauptabmessungen |
| TGL 200-8310/01 | 1980-01-00 | Bauelemente der Elektronik. Glasdurchführungen für Gleichrichterdioden und Thyristoren. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8310/02 | 1980-01-00 | Bauelemente der Elektronik. Glasdurchführungen für Gleichrichterdioden und Thyristoren. Hauptab- messungen |
| TGL 200-8327 | 1975-12-00 | Halbleiterbauelemente. Bauformen für Halbleitergleichrichterdioden |
| TGL 200-8362 | 1975-03-00 | Festkondensatoren. Metallgehäuse für Kondensatoren. Allgemeine Technische Forderungen. prüfung. Lieferung |
| TGL 200-8363/01 | 1976-01-00 | Halbleiterbauelemente. Messverfahren für Thyristoren. Allgemeine Messbedingungen. Übersicht |
| TGL 200-8363/02 | 1976-01-00 | Halbleiterbauelemente. Messverfahren für Thyristoren. Messung der Druchlaßspannung |
| TGL 200-8363/03 | 1976-01-00 | Halbleiterbauelemente. |
| TGL 200-8363/08 | 1976-01-00 | Halbleiterbauelemente. Messverfahren für Thyristoren. Messung des Haltestromes |
| TGL 200-8380 | 1981-12-00 | Halbleiterbauelemente. Halbleiterdioden Verlustleistung unter 1 Watt. Bauformen |
| TGL 200-8382 | 1981-12-00 | Feste und mechanische veränderbare Widerstände. Schichtwiderstände für Schmelzeinsätze. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8385 1. Änderung | 1976-01-00 | |
| TGL 200-8414/03 | 1975-11-00 | Elektrische Kondensatoren. Leistungskondensatoren ab 50 kvar über 1 kV. Hauptabmessungen. Hauptkennwerte |
| TGL 200-8420/02 | 1981-08-00 | Halbleiterbauelemente. Kühlschellen und Kühlkörper für Transistoren. Transistorbauform B |
| TGL 200-8427 | 1981-03-00 | Festkondensatoren. Polystyrol-Kondensatoren im zylindrischen Metallgehäuse im Drahtanschluß. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8470 | 1975-07-00 | Mikroelektronik. Begriffe |
| TGL 200-8486 | 1981-03-00 | Feste und mechanisch veränderbare Widerstände. Feste schichtwiderstände Baureihe 145. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8510 | 1968-09-00 | Elektronenröhren. Empfängerröhre PL 504 |
| TGL 200-8511 | 1986-03-00 | Kontaktbauelemente. Steckverbinder 13/60. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8513 | 1979-11-00 | Festkondensatoren. Aluminium-Elektrolyt-Kondensatoren TYP IA. Einfachkapazitäten, zylindrisch, axialer Drahtanschluß, Hochvolt. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8514 | 1979-12-00 | Festkondensatoren. Aluminium-Elektrolyt-Kondensatoren TYP IA. Einfachkapazitäten, zylindrisch, Schraub- und Flachsockel, einseitiger Lötfahnenanschluß, Hochvolt. Technische Bedingungen |
| TGL 200-8515 | 1979-12-00 | Festkondensatoren. Aluminium-Elektrolyt-Kondensatoren TYP IA. Mehrfachkapazitäten, zylindrisch, Schraub- und Flachsockel, einseitiger Lötfahnenanschluß, Hochvolt. Technische Bedingungen |
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